Gage R&R을 설명한 포스트와 비교해서 이번에는 기본적으로 "랜덤하게" 샘플을 취한다
그렇지만 그냥 랜덤하게 샘플링해서는 안된다. 왜냐하면 그렇게 할 경우 샘플은 기본적인
분포와 일치하지 않을 수도 있기 때문이다.

■ 규격 범위에 걸쳐 균일하게 샘플 10개를 취한 경우

(#3) 부품을 규격의 범위에 걸쳐 동일한 간격으로 선정하는데 이 경우에는 공정능력이 ZLT=3
     수준이라고 가정한다.

위와 같은 샘플선정은 극단적으로 편향된 결과를 나타내고, 측정시스템을 인정해주며 그리고
어떤 경우에는 아주 우수한 측정시스템이라고 까지 인정해주는 결과를 나타내게 된다.
말할 필요도 없이 이 방법은 정확한 평가 결과라고 할 수 없다

■ 규격 범위 밖의 샘플 2개를 포함하여 10개를 취한 경우

(#4) 10개중 8개는 랜덤하게 선정하고 나머지 한개씩은 규격값으로 부터 각각 0.5σ바깥의
     부품을 선정한다

사실 여기서 언급한 두개 포인트는 아주 큰 차이를 만들고 분석결과를 아무런 소용이 없게 하며
이런 샘플링은 ZLT>3인 공정에서는 아주 극단적인 결과를 나타낸다.
명백하게 이 방법은 합리적인 샘플링 구조가 아니다

여러분이 측정시스템 분석을 할 때 샘플을 랜덤하게 취하라고 배우셨다면 왜 그렇게 많은 사람들이
앞에서 제시한 방법과 비슷하거나 위의 방법중에 한가지 방법을 사용하고 있을까 궁금하리라 본다.
그 부분은 내일 이어서 알아 보도록 하자